Kodu > Uudised > Sisu

Õnnitlused NANO tehniline konverentsi toimus edukalt

NANO metroloogia tehniline konverentsi toimus 9thNov. edukalt. Rohkem kui 150 inimest osaleda konverentsil. Seejärel on peamised ettevõtte nime loendis.

Air China võimu CorpTera Center
Mõõtmise CenterKvaliteedi osakonna
JärelevalvetalitusRuumi mõõtmine
Fareast rühmaKeian rühma


Logi sisse

Bussiness Manager tutvustada NANO arengu

measuring machine

Insener: Renishaw anduriga süsteem

high accuracy measuring equipment renishaw probe head system

Insener: välis-võimalusi tutvustavad RationalDMIS ja Modus SW

 practice measuring solutionsbridge type CMM

Haridust, tehnoloogiat

 gantry type coordinate measuring machine

 gear center arm measuring machine


Teatage meile kui küsimusi või nõuandeid

E-post:Overseas@CMM-nano.com